Detachable probe tip device for measuring probe

測定プローブ用着脱自在プローブ・チップ装置

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a low-cost and detachable probe tip device 10 allowing easy replacement of a probe tip so as to perform repair, and allowing an easy change into a different-type probe tip. <P>SOLUTION: A housing 12 has a probe tip installation member 14 and a plurality of installation arms 16, 18 nearly perpendicularly extending opposite to each other from the prob tip installation member, and the inner face 52 of the probe tip installation member is determined by the installation arms. At least one reversibly compressible elastic member 56 is disposed inside the inner face of the probe tip installation member, and the first and second probe tips 42, 44 are disposed such that they cover the reversible compressible elastic member. Latch means 66/96. 66/100, 118, 120 fix the first and second prob tips to the housing 12. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI
【課題】 修理のためにプローブ・チップを容易に交換できると共に、異なる形式のプローブ・チップに容易に交換できる安価で着脱自在なプローブ・チップ装置10を提供する。 【解決手段】 ハウジング12は、プローブ・チップ装着部材14と、このプローブ・チップ装着部材から互いに向かい合って略直角に伸びた複数の取り付けアーム16、18とを有し、これら取り付けアームによりプローブ・チップ装着部材の内面(52)が決まる。少なくとも1個の可逆圧縮可能な弾性部材56は、プローブ・チップ装着部材の内面内に配置され、第1及び第2プローブ・チップ42、44は、可逆圧縮可能な弾性部材を覆うように配置される。ラッチ手段66/96、60/100、118、120がこれら第1及び第2プローブ・チップをハウジングに固定する。 【選択図】 図1

Claims

Description

Topics

Download Full PDF Version (Non-Commercial Use)

Patent Citations (6)

    Publication numberPublication dateAssigneeTitle
    JP-2002031649-AJanuary 31, 2002Tektronix Inc, テクトロニクス・インコーポレイテッド測定プローブ・ヘッド用交換可能プローブ・チップ・ホルダ及び高周波プローブ・ヘッド
    JP-2002107376-AApril 10, 2002Tektronix Inc, テクトロニクス・インコーポレイテッド測定プローブ用プローブ・チップ・アダプタ
    JP-2002116223-AApril 19, 2002Tektronix Inc, テクトロニクス・インコーポレイテッドProbe chip adapter for measuring probe
    JP-H075201-AJanuary 10, 1995Yokogawa Electric Corp, 横河電機株式会社Probe
    US-2003195713-A1October 16, 2003Mctigue Michael T.Systems and methods for wideband active probing of devices and circuits in operation
    US-2004008046-A1January 15, 2004Lecroy CorporationCartridge system for a probing head for an electrical test probe

NO-Patent Citations (0)

    Title

Cited By (2)

    Publication numberPublication dateAssigneeTitle
    JP-2007171184-AJuly 05, 2007Tektronix Inc, テクトロニクス・インコーポレイテッドTektronix,Inc.Accessory device voltage management system
    JP-2014106019-AJune 09, 2014Stack Electronics Co Ltd, スタック電子株式会社プローブ