エックス線分析装置用支持台

Support bench for x-ray analyzer

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a support bench for an X-ray analyzer which enables a measurement of the X-ray analyzer excellent in the portability and measuring a composition material of a to-be-measured object at a to-be-measured location in a plane other than a vertical plane. <P>SOLUTION: A frame plate 27 of the X-ray analyzer 2 is fixed on a front face of a tilting table plate 11. The tilting table plate 11 is swingably provided by a hinge section 11d. A worm gear 13 is provided on a back face of the tilting table plate 11. A base end of a swing arm 14 is attached to a worm wheel 13b. A tip of the swing arm 14 is slidably coupled to the back face of the tilting table plate 11. A support spring 33 is bridged between a base plate 23 and a bracket 11c attached to the tilting table plate 11, and prevents the base plate 23 from falling. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
【課題】 測定対象物の組成物質の測定を行う携行性に優れたエックス線分析装置を、鉛直面以外の面内にある被測定位置についても測定を行えるようにするエックス線分析装置用支持台を提供する。 【解決手段】 エックス線分析装置2の架台プレート27を傾斜台板11の表面に固定する。傾斜台板11はヒンジ部11dにより揺動可能に設け、傾斜台板11の裏面側にウォームギヤ13を設け、ウォームホイール13bに揺動アーム14の基端部を取付、先端部を傾斜台板11の裏面に摺動可能に連繋させる。ベースプレート23と傾斜台板11に取り付けたブラケット11cとに支持バネ33を掛け渡して、ベースプレート23が下降することを防止する。 【選択図】 図1

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